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2022-320
CT探傷儀是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性，發(fā)現(xiàn)缺欠的一種無(wú)損檢測(cè)方法。X射線的波長(zhǎng)很短一般為0.001～0.1nm。X射線以光速直線傳播，不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響，可穿透物質(zhì)，在穿透過(guò)程中有衰減，能使膠片感光。當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時(shí)，由于射線與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過(guò)程，其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強(qiáng)度相應(yīng)減弱，這種現(xiàn)象稱(chēng)之為射線的衰減。X射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢驗(yàn)工件與其內(nèi)部缺欠介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同，而引起射線透過(guò)工件后強(qiáng)度...
查看更多2022-318
工業(yè)CT是在射線檢測(cè)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，其基本原理是：讓一束X射線投射在物體上，通過(guò)物體對(duì)X射線的吸收（多次投影）便可獲得物體內(nèi)部的物質(zhì)分布信息。它能在對(duì)檢測(cè)物體無(wú)損傷條件下，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式，清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。一個(gè)工業(yè)CT系統(tǒng)至少應(yīng)當(dāng)包括射線源，輻射探測(cè)器，樣品掃描系統(tǒng)，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)（硬件和軟件）等。工業(yè)CT工業(yè)CT與傳統(tǒng)的X射線探傷和超聲波探傷相比，具有空間分辨率高、無(wú)損檢測(cè)、速度快等特點(diǎn)，因而在工業(yè)產(chǎn)品的檢...
查看更多2022-223
微焦點(diǎn)CT是指應(yīng)用于工業(yè)中的核成像技術(shù)。其基本原理是依據(jù)輻射在被檢測(cè)物體中的減弱和吸收特性。同物質(zhì)對(duì)輻射的吸收本領(lǐng)與物質(zhì)性質(zhì)有關(guān)。所以，利用放射性核素或其他輻射源發(fā)射出的、具有一定能量和強(qiáng)度的X射線或γ射線，在被檢測(cè)物體中的衰減規(guī)律及分布情況，就有可能由探測(cè)器陳列獲得物體內(nèi)部的詳細(xì)信息，用計(jì)算機(jī)信息處理和圖像重建技術(shù)，以圖像形式顯示出來(lái)。1、儀器應(yīng)放在清潔干燥的室內(nèi)，要盡量避免光學(xué)零件表面污損、金屬零件生銹、塵埃雜物落入運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌，因?yàn)檫@樣會(huì)影響儀器的性能。2、在使用完畢后，工...
查看更多2022-126
國(guó)產(chǎn)工業(yè)CT是一種很好的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，是物體內(nèi)外部缺陷測(cè)量與統(tǒng)計(jì)、結(jié)構(gòu)尺寸測(cè)量、設(shè)計(jì)工藝改進(jìn)、升級(jí)制造技術(shù)*的手段。CT檢測(cè)能在不破壞工件結(jié)構(gòu)的情況下實(shí)現(xiàn)模具及模具產(chǎn)品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的幾何尺寸以及曲面測(cè)量，計(jì)算出測(cè)量目標(biāo)的長(zhǎng)寬高、面積、表面積、體積等各種幾何參數(shù)，實(shí)現(xiàn)零件與CAD模型對(duì)比、幾何尺寸與公差（GD＆T）分析、零件與零件對(duì)比。同時(shí)可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部多種缺陷(如裂紋、氣泡、夾雜、疏松、脫粘、裝配缺陷等)的無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損質(zhì)量評(píng)價(jià)，檢測(cè)對(duì)象也幾乎涵蓋了各種材質(zhì)和各種結(jié)構(gòu)類(lèi)型...
查看更多2022-120
X射線檢測(cè)系統(tǒng)的基本原理是依據(jù)輻射在被檢測(cè)物體中的減弱和吸收特性。同物質(zhì)對(duì)輻射的吸收本領(lǐng)與物質(zhì)性質(zhì)有關(guān)。所以，利用放射性核素或其他輻射源發(fā)射出的、具有一定能量和強(qiáng)度的X射線或γ射線，在被檢測(cè)物體中的衰減規(guī)律及分布情況，就有可能由探測(cè)器陳列獲得物體內(nèi)部的詳細(xì)信息，后用計(jì)算機(jī)信息處理和圖像重建技術(shù)，以圖像形式顯示出來(lái)。X射線檢測(cè)系統(tǒng)四大優(yōu)點(diǎn)：1、準(zhǔn)確定位，圖像更易識(shí)別常規(guī)射線檢測(cè)技術(shù)主要是把三維物體投影到二維平面上，容易造成圖像信息的疊加，如果想要獲得圖像上的信息，沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的話，...
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