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工業(yè)CT在使用中有哪些作用

工業(yè)CT是工業(yè)用計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù)的簡(jiǎn)稱，成像方法是將工件進(jìn)行斷層掃描，并進(jìn)行數(shù)字處理，給出真實(shí)反映工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的斷層二維圖像，測(cè)量足夠多的斷層二維圖像之后，按照一定的圖像重建算法經(jīng)過圖像處理，得到三維立體模型，該模型能夠直觀地反映工件是否存在缺陷及有損傷缺陷的準(zhǔn)確位置和其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的大小、分布和形狀等。工業(yè)CT技術(shù)作為先進(jìn)的無損檢測(cè)技術(shù)，其設(shè)備結(jié)構(gòu)復(fù)雜，性能參數(shù)差異較大，對(duì)檢測(cè)人員要求高。但是無損測(cè)試中擁有很大的優(yōu)勢(shì)。1.無損檢測(cè)方法簡(jiǎn)而言之，工業(yè)CT掃描是利用射線照相技術(shù)來...

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工業(yè)CT的五個(gè)重要保養(yǎng)方法

工業(yè)CT能在不破壞工件結(jié)構(gòu)的情況下實(shí)現(xiàn)模具及模具產(chǎn)品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的幾何尺寸以及曲面測(cè)量，計(jì)算出測(cè)量目標(biāo)的長(zhǎng)寬高、面積、表面積、體積等各種幾何參數(shù)，實(shí)現(xiàn)零件與CAD模型對(duì)比、幾何尺寸與公差（GD＆T）分析、零件與零件對(duì)比。工業(yè)CT設(shè)備的三個(gè)主要組件是X射線源，旋轉(zhuǎn)控制臺(tái)和檢測(cè)器。從X射線源到檢測(cè)器的距離以及從X射線源到掃描目標(biāo)的距離決定了CT掃描的幾何放大率和3DCT組件模型的體素大小。X射線設(shè)備產(chǎn)品系列中提供的可變X射線源到探測(cè)器距離的使用對(duì)于在產(chǎn)品檢查中獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)至...

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國(guó)產(chǎn)工業(yè)CT的基本原理是什么？

國(guó)產(chǎn)工業(yè)CT的基本原理是依據(jù)輻射在被檢測(cè)物體中的減弱和吸收特性。同物質(zhì)對(duì)輻射的吸收本領(lǐng)與物質(zhì)性質(zhì)有關(guān)。所以，利用放射性核素或其他輻射源發(fā)射出的、具有一定能量和強(qiáng)度的X射線或γ射線，在被檢測(cè)物體中的衰減規(guī)律及分布情況，就有可能由探測(cè)器陳列獲得物體內(nèi)部的詳細(xì)信息，后用計(jì)算機(jī)信息處理和圖像重建技術(shù)，以圖像形式顯示出來。國(guó)產(chǎn)工業(yè)CT能在對(duì)檢測(cè)物體無損傷條件下，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式，清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。550國(guó)產(chǎn)工業(yè)CT四大優(yōu)...

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X射線探傷儀的使用過程有哪些注意事項(xiàng)

X射線探傷機(jī)是利用射線透過被檢驗(yàn)物質(zhì)來發(fā)現(xiàn)其中是否有缺陷。它的穿透能力取決于X射線探傷機(jī)的能量或波長(zhǎng)。既X射線探傷機(jī)的管電壓，管電壓愈高，X射線愈硬，能量愈大，穿透能力就愈強(qiáng)，穿透能力與管電壓平方成正比。X射線探傷機(jī)操作程序各種型號(hào)的X射線機(jī)控制部分的電路原理有很大差別，他們的操作程序應(yīng)按設(shè)備說明書的要求進(jìn)行。通常的操作程序?yàn)椋和娗皽?zhǔn)備1.用電源線、電纜線將控制器、機(jī)頭、高壓發(fā)生器以及冷卻系統(tǒng)(便攜式為一體)等可靠連接，保證插頭接觸良好。2.檢查使用電源電壓是否為220V經(jīng)...

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X射線CT測(cè)量誤差主要來源是什么？

X射線CT探傷技術(shù)的優(yōu)勢(shì)在于可以對(duì)產(chǎn)品的內(nèi)外結(jié)構(gòu)和尺寸進(jìn)行無損測(cè)量，一次掃描即可同時(shí)完成產(chǎn)品的尺寸檢測(cè)與材料質(zhì)量控制，相比于傳統(tǒng)接觸式的或光學(xué)設(shè)備的難以探測(cè)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的掃描方式，使用工業(yè)CT技術(shù)將是一個(gè)理想的解決方案。但是，由于工業(yè)ct檢測(cè)過程受很多復(fù)雜因素影響，目前為止對(duì)于工業(yè)CT設(shè)備的測(cè)量精度及置信度尚無法給出確切的回答，這也成為限制工業(yè)CT測(cè)量技術(shù)發(fā)展的瓶頸。X射線CT測(cè)量誤差主要來源分析可以從以下幾個(gè)方面著手，尤其需要注意的是在利用高精度外部尺寸測(cè)量結(jié)果對(duì)工業(yè)CT數(shù)據(jù)進(jìn)...

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